检测认证人脉交流通讯录
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品牌: 规格:
用途:半导体参数在片测试
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品牌: 规格:可测片径：3″-- 6″
用途:半导体在片测试
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品牌: 规格:Wafer Size Range: 75mm - 150mm...
用途:PCM参数测试
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HP/Agilent 4280A 1MHzC表/C-V 测试仪
品牌: 规格: 1MHz
用途:测量作为旋加电压（C-V）或时间（C-t）的函数的半导体...
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品牌: 规格:I: 1pA - 100mA, V: 1mV - 100V
用途:半导体器件和材料进行直流参数测试
